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集成電路(IC)EMC測試——傳導發射測量方法和輻射發射測量方法


  來源: 儀商網 時間:2018-06-19 編輯:思揚
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輻射發射測量方法-1Ω/150Ω直接耦合法

德國LANGER公司開發和生產的用于測量IC引腳傳導發射的1歐姆/150歐姆組件,符合IEC61967-4規定的兩種測試方法:1Ω測試法和150Ω測試法。1Ω測試法用來測試接地引腳上的總騷擾電流,150Ω測試法用來測試輸出端口的騷擾電壓。




測試示意圖



測試連接圖

探頭技術探頭參數


輻射發射測量方法-磁場探頭法

德國LANGER公司開發和生產的用于測量IC引腳的傳導發射的磁場探頭,符合IEC61967-6測試要求,磁場探頭法是通過測試PCB板導線上的電流來評定集成電路的電磁發射。芯片引腳通過PCB板上的導線與電源或外圍電路相連,因而它產生的射頻電流可用一個靠近的磁場探頭獲取,由電磁感應定律,探頭輸出端的電壓正比于導線上的射頻電流。



測試示意圖



測試連接圖



探頭技術參數


關鍵詞:測試 測量 儀器    瀏覽量:4691

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