測試作為集成電路行業的關鍵技術之一，是行業相關從業人員必須要掌握的重點內容，隨著芯片設計和制造技術向高集成化、小型化發展，深亞微米、人工智能等技術的日趨成熟給相應測試技術帶來現實挑戰，既要提高測試效率又要降低測試成本是測試工程師始終需要考慮的問題。本次培訓安排2天時間，讓參訓人員掌握集成電路測試的原理和可測試性設計的概念，學習測試過程分析和測試良率提升方法在實際測試過程中的應用是本次培訓主要目的。
基本信息
培訓課時：2天（第一天 集成電路制造測試流程，測試和DFT的概念，測試向量，ATPG、第二天 測試良率和測試系統的分析，內容涵蓋D0良率模型，CP/CPK,R&R等）；
培訓要求：集成電路行業從業人員；
培訓對象：集成電路行業測試工程師，產品工程師，質量工程師，設計工程師和工藝開發工程師等；
培訓費用：培訓定價3600元，本次為第一次對外開班，報名即享5折優惠（1800元），限額6人。
培訓內容
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類別 |
主題 |
目標 |
內容 |
用時（分） |
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集成電路測試基礎 |
集成電路設計制造流程 |
了解集成電路設計和制造流程 |
集成電路設計流程 集成電路制造流程 測試在IC制造中的作用和地位 |
30 |
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測試和可測試性設計 |
了解測試的必要性 |
測試的概念 測試向量（激勵，響應，時序） 故障模型 測試的分類 |
60 |
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理解可測試性設計相關概念 |
ATPG 并發測試（NVM）） |
30 |
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制造過程中的測試 |
了解ATE測試 |
測試負載板 測試程序 IO timing設定 測試儀精度和準確度 |
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了解老化測試 |
老化測試的概念及分類 |
30 |
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了解QA抽樣測試 |
抽樣測試的概念 制造過程中抽樣SOTF |
30 |
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測試系統分析和測試 良率 |
測試良率 |
掌握良率模型 |
泊松模型 Bose-Einstein模型 二項式模型 實例分析 |
60 |
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測試過程能力評價 |
掌握CP/CPK |
CP/CPK的概念、計算及評價 實例分析 |
60 |
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測試規范設置 |
合理設定測試規范 |
sigma的概念 PVT的概念 實例分享 |
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測量系統分析 |
評價測試系統可靠性 |
測試重復性和重現性的概念 多測良系統的R&R 實例分析 |
60 |
培訓咨詢及報名聯系方式：
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電話：020-38743030，
13640753740（許小姐，微信同）
021-67282705，
18922237286（王小姐，微信同）
關于培訓時間、培訓地點等信息日后會另行放出，最終解釋權歸虹科所有。
有人說，奈良的鹿很可愛；有人說三月底的花很好看。但都不如虹科的這場培訓令你如此心動，我知道，心之所鐘，雖難必至，虹科等你！
