FLIR X-HS系列高端紅外熱像儀是一款集精密測量與廣泛應用性于一體的高性能科學級設備。它憑借卓越的探測技術和精密算法，能夠在-80°C至+3000°C的寬溫度范圍內識別細微至0.02°C的溫度變化。
特別值得一提的是，F(xiàn)LIR X-HS系列熱像儀配備了高達4TB的大容量高速固態(tài)硬盤(SSD)無損記錄系統(tǒng)，可確保每一次紅外圖像采集與數據傳輸都能以高保真度進行長時間、不間斷的保存。無遺漏、無失真，這對于需要連續(xù)監(jiān)測、高精度數據記錄的科研、國防及工業(yè)領域而言，無疑是革命性的突破。
結合其中波紅外(MWIR)和長波紅外(LWIR)光譜的兼容性，以及10GigE和CoaXPress(CXP)2.1的高速接口，F(xiàn)LIR X-HS系列熱像儀不僅滿足了嚴苛的科研需求，更成為科學家、工程師、研究人員及質量保證經理等專業(yè)人士在復雜測試場景中不可或缺的得力助手。
FLIR X-HS系列科學紅外熱像儀可主要應用在彈道學、無損檢測、作應力圖、PCB和電子部件測試、輻射測量等相關行業(yè)。
