EMI預兼容測試選件

幾乎任何用于銷售電子產品都需進行電磁兼容性（EMC）測試，必須確保產品符合監管機構規定的規格標準。

EMC測試必要性

聯邦通信委員會（FCC）規定了電磁兼容性測試的規則。CISPR和IEC測試定義也在全球范圍內被廣泛使用。全面的合規性測試可能很昂貴，對產品進行全面合規性測試還需要專門的測試環境。如果在合規性測試中發現任何問題，設計人員需要回到工程部門進行分析和可能的重新設計。這可能會導致產品發布延遲和設計成本明顯增加。

EMI預兼容測試方案

作為EMC測試的一部分，EMI測試在產品設計早期階段的介入是必要的。

以OWON的方案為例，主要由

1、OWON全系列頻譜分析儀

2、EMI選件

3、ORF5060近場探頭

提供了快速預兼容測試系統方案。通過近場測量可以很方便的進行定性的診斷測量，發現電磁輻射大的區域，對潛在的問題進行定位。

1. OWON頻譜分析儀

OWON全系列頻譜儀具有便捷的操作界面和簡潔的顯示風格，采用成熟的數字中頻技術，最小分辨率帶寬(RBW)低至 1Hz，標配前置放大器，顯示平均噪聲電平(DANL)達-161 dBm/Hz，具備微小信號測量能力，全幅度精度<0.7 dB，測量結果精確可信。

2. EMI預兼容測試軟件

OWON頻譜分析儀可通過儀器升級獲得

EMI預兼容測試軟件?。?！

EMI模式包含掃描、測量、計量三個流程，可以靈活配置流程。EMI測量模式提供了完整的CISPR限值和檢波器，包括準峰值、峰值、有效值平均。工程師可加載EMI 國際標準法規限制線，用戶也可以自定義限制線。還可以使用標準EMI分辨率帶寬(200 Hz、9 kHz、120 kHz和1 MHz)。

EMI 濾波器仍是準高斯形狀，只是其脈沖帶寬定義為-6dB，相比于傳統的高斯濾波器具有更好的頻率選擇性。準峰值檢波是一種快速充電，慢速放電的檢波器，時間加權的檢波方式，它將時間上間斷出現的干擾信號進行幅度的加權平均作為結果顯示。

這樣即使幅度很大但是出現概率很低的干擾信號可能得到較低的準峰值檢波結果，而幅度很小但是出現概率很高的干擾信號也有可能得到較高的準峰值檢波結果，這種加權比較適合電子設備對干擾信號的反應。但是準峰值檢波的平均過程測試時間長，并不利于日常的診斷。

因此在進行 EMI 預兼容測試時，可以先用峰值檢波快速發現 EMI 問題頻點，然后針對這些峰值點專門進行準峰值測量，以節省測試時間。

（EMI界面）

（內置國際標準法規限制線）

選擇EMI模式可在儀器上通過觸摸屏、鼠標和鍵盤進行操作。這使報告存檔、掃描運行以及跳轉到感興趣的信號并立即調試變得容易。右側條形顯示給定頻率的實時測量值。此程序可在掃描后快速移動到感興趣的信號，它可以在頻率上實時測量最多3個檢波器的數據，為調試和進一步分析提供便捷。

3.ORF近場探頭

對于輻射發射，使用近場磁性（H場）探頭拾取通過探頭末端小環路傳播的發射。這些磁性探頭只能捕獲探頭附近的信號，因此被稱為“近場”探頭。這使得它們非常適合基本的可視化，因此工程師可以通過將探頭掃過區域快速掃描新的電路板或外殼來查找問題。較大的探頭雖能提升掃描速度，但相應的空間分辨率會有所降低。

在此過程中，探頭充當天線角色，負責捕獲接縫、開口、引腳及其他可能產生RF輻射的元件所釋放的信號。為確保測試的全面性，對所有電路元件、連接器、旋鈕、箱體開口及接縫的徹底掃描是不可或缺的。通常對于此類EMI可視化測試，無需使用屏蔽室或屏蔽裝置，因為探頭主要記錄的是極為接近的信號。工程師可通過調整探頭的方向及位置，來識別發射源。

（天線補償參數）

內置針對天線，LISN，電纜的頻響補償，可選擇對應的天線，用戶也可自定義頻響補償。通過OWON的EMI方案可以簡便快速預兼容測試，這會最大限度地減少產品開發時間，降低設計成本。

ORF5060 近場探頭

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