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5G IC測(cè)試系統(tǒng)——TS-960e-5G

隨著5G的不斷部署,基站,小型蜂窩,手機(jī)和工業(yè)設(shè)備將需要符合標(biāo)準(zhǔn)的IC設(shè)備。而這些部件納入供應(yīng)鏈,意味著IC制造商需要針對(duì)與5G芯片的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)。自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)(ATE)將需要對(duì)在28 GHz和39 GHz以及6 GHz以下頻段運(yùn)行的無(wú)線電,波束形成器,放大器和其他部件進(jìn)行測(cè)試;這就要求ATE中需要包含向量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)和數(shù)字I / O等設(shè)備。在5G測(cè)試設(shè)備中,我們注意到越來(lái)越多的ATE公司正在進(jìn)入5G大市場(chǎng)中。Marvin Test Solutions與Rohde&Schwarz合作開(kāi)發(fā)5G IC的ATE系統(tǒng),也將參與這場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)之中。


圖1:TS-960e-5G外觀圖


產(chǎn) 品 介 紹

1、 硬件部分


TS-960e-5G mmWave測(cè)試系統(tǒng)可提供高達(dá)50 GHz的測(cè)試性能。該系統(tǒng)將實(shí)驗(yàn)室級(jí)RF性能直接集成到mmWave被測(cè)設(shè)備(DUT)中,用于mmWave設(shè)備的多網(wǎng)站生產(chǎn)測(cè)試或設(shè)備表征。此外,MTS還提供全套數(shù)字和參數(shù)測(cè)試以及SPI / I2C接口支持,以便在功能上控制/監(jiān)控被測(cè)設(shè)備。


主要組件(如圖2所示):

 Rohde & Schwarz ZNBT40 24通道,40 GHz VNA
 Marvin Test GX7205 PXI機(jī)箱,為每個(gè)DUT提供一個(gè)專用32通道,100/125 MHz DIO卡,以及一個(gè)GX3104源測(cè)量單元(SMU)
 Rohde & Schwarz OSP320,增加了4個(gè)1×6開(kāi)關(guān),用于互調(diào)測(cè)試
 Marvin測(cè)試頭具有產(chǎn)品接口,包括Seiko Epson 8040 Quad Site封裝設(shè)備處理器的接口



圖2:TS-960e-5G內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖


1) 開(kāi)短路以及DC/AC測(cè)試

基本版的ATE中包含64個(gè)動(dòng)態(tài)數(shù)字I / O信道,64個(gè)靜態(tài)數(shù)字I / O信道,一個(gè)用戶可程序設(shè)計(jì)電源,一個(gè)系統(tǒng)自檢和夾具。動(dòng)態(tài)數(shù)字I/O—GX5296,每引腳PMU功能,可以快速實(shí)現(xiàn)開(kāi)短路以及DC測(cè)試;125MHz的數(shù)據(jù)速率有助于實(shí)現(xiàn)AC測(cè)試,結(jié)合GtDIO6xEasy軟件,可以實(shí)現(xiàn)pattern文件的編寫(xiě)以及導(dǎo)入,用于驗(yàn)證基本的功能性測(cè)試。靜態(tài)數(shù)字I/O——GX5733可以很好的實(shí)現(xiàn)切換功能以及環(huán)境變量控制;


升級(jí)版ATE可以擴(kuò)展為256個(gè)動(dòng)態(tài)數(shù)字信道,128個(gè)靜態(tài)數(shù)字信道,極大的豐富了系統(tǒng)資源,有助于更大規(guī)模的量產(chǎn)測(cè)試。



圖3:TS-960e-5G數(shù)字子系統(tǒng)


2) 射頻功能測(cè)試部分


ATE中使用Rohde&Schwarz的ZNBT40是一款多端口向量網(wǎng)絡(luò)分析儀,工作頻率范圍為9 kHz至40 GHz,最多可提供24個(gè)通道。該儀器可以同時(shí)測(cè)試多個(gè)DUT或測(cè)量一個(gè)DUT,最多24個(gè)通道。即使在具有大量埠的情況下,它也可以在3.5 ms的短測(cè)量時(shí)間完成201點(diǎn)的掃描。


ZNBT40具有高達(dá)135 dB的寬動(dòng)態(tài)范圍,高輸出功率水平和具有高功率處理能力的輸入。該儀器主要用于開(kāi)發(fā)和生產(chǎn)有源和無(wú)源多端口組件,如GPS,WLAN,藍(lán)牙和多頻段移動(dòng)電話的前端模塊,且能夠確定24通道DUT的所有576個(gè)S參數(shù)。


該網(wǎng)絡(luò)分析儀沒(méi)有顯示功能,可以很好的節(jié)約空間——這對(duì)于自動(dòng)化產(chǎn)品十分有理。它可以通過(guò)外部顯示器,鼠標(biāo)和鍵盤(pán)或外部觸摸屏進(jìn)行控制。



圖4:TS-960e-5G射頻測(cè)試子系統(tǒng)


3) Handler界面
對(duì)于需要與自動(dòng)化處理器集成的生產(chǎn)測(cè)試應(yīng)用,TS-960e-5G配備了一個(gè)inTEST操縱器,可以提供測(cè)試頭的精確定位以及與自動(dòng)探測(cè)器和設(shè)備處理器接口。TS-960e-5G的設(shè)備接口板(DIB)/接收器接口幾乎兼容任何設(shè)備處理器。


圖5:TS-960e-5G界面板


對(duì)于量產(chǎn)測(cè)試,系統(tǒng)配置EPSON NS-8040設(shè)備,該產(chǎn)品具有高穩(wěn)定性,易操作維護(hù)等特點(diǎn),可以進(jìn)行多種封轉(zhuǎn)形式芯片的測(cè)試工作。


圖6:EPSON NS-8040


2、 軟件部分


ATE中軟件的執(zhí)行環(huán)境為ATEasy,可以輕松完成測(cè)試程序的編寫(xiě)和執(zhí)行管理工作;同時(shí)配有ICEasy半導(dǎo)體測(cè)試軟件包;DIOEasy-Fit:pattern轉(zhuǎn)換和導(dǎo)入工具;GtDio6xEasy:pattern編輯工具;5G VNA,VSA測(cè)試套件:可以進(jìn)行頻譜,時(shí)序顯示及統(tǒng)計(jì),數(shù)字調(diào)制分析等工作。


ATEasy支持Windows的多種APIs,包括Labview,CVI,Microsoft和Borland C/C++,Microsoft Visual Basic,以及Borland Delphi。



圖7:測(cè)試程序集


總  結(jié)
TS-960e-5G自動(dòng)化5G芯片測(cè)試設(shè)備,具有量產(chǎn)的測(cè)試速度,實(shí)驗(yàn)室級(jí)別的測(cè)試性能;支持40GHz-53GHz的高頻芯片測(cè)試工作;可實(shí)現(xiàn)多Site的FT測(cè)試或晶圓測(cè)試,是mmWave設(shè)備/模塊測(cè)試和表征,試驗(yàn)產(chǎn)品和關(guān)鍵產(chǎn)品測(cè)試,自動(dòng)故障分析的理想選擇。

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