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紅外測溫技術在GIS故障診斷中的應用


由于GIS設備具有占地面積小、運行可靠、設備檢修維護周期長等優點,近年來在電力系統各電壓等級中得到大力應用和推廣。隨著GIS設備數量的不斷增多以及運行年限的日益增長,各類缺陷逐漸增多,主要表現為發熱型缺陷、放電型缺陷和機械型缺陷。發熱性缺陷主要包括導電回路接觸不良、絕緣整體受潮、老化等引起的發熱,是 GIS設備的主要缺陷類型,由于發熱引起的設備故障近幾年屢見不鮮,已造成多起設備停運甚至爆炸等事故,因此加強GIS設備熱缺陷的檢測與分析具有重要意義。

紅外測溫技術作為帶電檢測的一種重要手段,具有不停電、不接觸、不解體、不取樣等一系列優點,已廣泛應用在電力系統中。目前紅外測溫技術不斷成熟,紅外測溫儀的測量精度及圖像分辨率均能達到精確測溫的要求,通過紅外測溫技術,分析診斷GIS設備熱缺陷必將成為開展設備狀態檢測的重要手段。文章基于紅外測溫原理,分析GIS設備內部與外部熱缺陷的機理及表現形式,提出相應地診斷依據,并通過實例進行分析驗證,總結出有效地檢測和診斷方法,以達到對現場實際提供有效指導價值的目的。

一、紅外測溫基本原理

任何溫度高于絕對零度(-273℃)的物體都會向外輻射紅外線,紅外輻射能量與溫度成一定的函數關系。見式(1)

式(1)中:W為發熱體發生功率,W;ε為輻射率;δ為玻爾茲曼常數;A為發射體表而積,㎝2T為發射體的絕對溫度,K

由式(1)可知,已知發射體表而的發射率,通過檢測紅外輻射能量,就可推斷出發射體的溫度。紅外熱像儀測溫的原理見圖1

1 紅外測溫原理圖

從圖1中可知,輻射能量通過儀器的透鏡、濾光片,會聚到探測器,探測器將輻射能轉換成電信號,經過放大器、A/D轉換器的處理,最后顯示出溫度值或將熱分布轉化為圖像顯示。

二、紅外測溫在GIS內部缺陷中的應用

1內部熱缺陷機理

GIS設備內部熱缺陷的原因通常包括內部導體連接不良,如螺栓未達到力矩要求,觸指彈簧壓力不夠等,斷路器或隔離開關合閘不到位,內部絕緣件受潮、老化等。

內部熱缺陷的診斷是通過分析比較設備外部溫度分布場和溫度的變化來實現的。熱分布圖的主要表現為:

1)發熱部位多位于導體對接處、斷路器和隔離開關的動靜觸頭結合處等部位。

2)受熱對流上升效應的影響,發熱特征是罐體上部溫度明顯高于下部溫度,一般水平罐體的特征是罐體頂部最熱,往四周溫度逐漸遞減。

3)內部熱缺陷熱輻射而積較大,在罐體上表現為一定區域內存在熱特征圖像。

針對常見的內部導電桿發熱缺陷,筆者認為:一旦發現便應視為嚴重缺陷,尤其是罐體上部溫度達到50℃,罐體溫升超過40℃或罐體上下部位溫差超過20℃時應列為危急缺陷。

2實例分析

20148月,對某500kV變電站進行例行紅外測溫時,發現220 kV分段Ⅱ22F開關A相開關與CT連接母線筒壁發熱,熱分布圖及相應部位見圖23

2 熱分布圖
3 發熱部位

從圖2可以看出,A相高位筒體最高溫度為45.4(環境溫度約為25),較底部筒體高出6.2 ,熱分布圖符合內部發熱特征,現場初步分析可能為內部導電體接觸不良,若不及時處理可能導致觸頭燒損引起電弧,造成擊穿甚至爆炸,嚴重影響區域電網的安全穩定運行。

設備停運后,對分段Ⅱ22F間隔進行診斷試驗分析,具體診斷項目如下:

1)對22F筒體發熱氣室進行SF。氣體組份測試,未檢測出SO2H2S等典型放電氣體,試驗結果正常;

2)發熱部位進行X光透視檢查,檢查結果未見異常;

3)回路電阻測試,從22F斷路器兩側開關之間進行回路電阻測試,測試結果見表1

1 22F回路電阻測量結果

從表1中可以看出,A相回路電阻超出出廠規定247μΩ(出廠值不大于396μΩ),相間差50.03%。從而確定該位置電連接存在接觸不良故障。

設備解體后,對內部情況進行檢查后發現,該發熱主要有兩個原因造成

觸指與導電桿接觸不均勻。檢查電連接觸指有發黑痕跡,觸指內部情況見圖4。由圖4可判斷為裝配時涂抹導電膏,觸指導流受熱焦化發黑;現場檢查發黑觸指分布集中在底部下端,判斷該位置觸指與導電桿接觸不均勻。由于早期制造工藝原因,觸指不能與導電桿有效全部接觸,導致電流不能均勻通過觸指(27片),造成局部觸指發熱。

4 觸指內部情況

電連接導電座與觸指座接觸不良。解體發現導電座與觸指座接觸不好見圖5,檢查電連接內部的螺栓有3個螺栓力矩未達到25N·m要求,導致接觸不良發熱,且出現導電膏受熱不均燒蝕凝固發黑的現象。

5 觸指座與導電座連接面

三、紅外測溫在GIS外部缺陷中的應用

1外部熱缺陷機理

GIS外殼接地分兩種方式:分段絕緣及全鏈多點接地。由于多點接地具有外部漏磁少、感應電壓低等優點,其可靠性和安全性均高于一點接地方式,因此目前使用的GIS設備基本全部采用多點接地方式,但該方式下,對于三相分箱母線,受電磁感應影響,會產生較大環流,一般能達到內部導體電流值的70%-90%。一旦出現GIS外殼接地點接觸不良、法蘭間接觸不良、三相短接排與法蘭而接觸不良、法蘭而緊固螺栓力矩不合格等問題時,便會造成嚴重發熱。罐體環流引起外部發熱雖不直接影響GIS運行,但長期高溫影響GIS絕緣件壽命,并容易使密封件過早老化,密封性能下降,引起漏氣,因此罐體環流引起法蘭等部位發熱不應忽視,按照設備接頭類紅外熱像診斷標準判斷。

外部熱缺陷熱分布圖主要表現為:

1)發熱多發生在外殼多點接地且三相分箱的設備中,發熱部位多位于導流排連接而、法蘭而固定螺栓等位置;

2)熱輻射而積小,發熱部位突出,具有明顯的溫升現象,現場容易檢測;

3)溫升與設備負荷具有明顯的對應關系,即可看成近似的正比關系。

2實例分析

1實例1

20145月,某變電站對220 kV GIS設備進行例行紅外測溫,發現某條線路出線氣室罐體底部與支柱座連接部位有發熱現象,與相鄰線路的同部位的溫差為20K,熱分布圖符合外部發熱特征,其罐體外部發熱圖見圖6

6 罐體外部發熱圖

經檢查分析,該GIS為三相不共箱設備,罐體為多點接地,受內部導體電磁感應影響,外殼在相鄰兩接地點會產生電壓差并形成環流,且環流較大,圖6中發熱部位為出線罐體的接地點,檢查發現,該接地點部位由于接觸而緊固不牢,造成連接而虛接現象,停電前測量環流值約為530A,在較大環流作用下,受較大接觸電阻影響,造成該部位的過熱現象。

2實例2

20143月,某500kV變電站在紅外測溫時發現,500kV GIS設備某一CT外殼處有一發熱點,發熱點部位突出、而積較小,該熱點與外殼其他部位溫差達12K,熱分布圖符合外部發熱特征,見圖7

7 CT外殼發熱圖

CT的二次線圈為外置式結構,即二次線圈位于氣室之外,外部為一鋁合金外罩,用以保護內部二次線圈,外罩與上下法蘭進行了絕緣處理,僅通過一根等電位線與地相連,以保持地電位。設備停運后,經現場檢查發現,該CT外罩與下法蘭的絕緣接觸而有一處受到破壞,導致與法蘭而直接接觸,造成外罩通過該點和等電位線兩處接地,從而出現環流,最終導致了發熱現象。

四、結語

隨著紅外測溫技術及紅外測溫儀器的不斷發展和成熟,紅外測溫在GIS設備中的應用越來越廣,且由于具備抗電磁干擾能力強、不接觸帶電設備、熱圖像形象直觀以及故障診斷和缺陷類型識別能力強等一系列優點,因此作為一項有效地帶電檢測手段,紅外測溫必將為GIS設備的狀態檢測提供重要的技術支撐。

文中基于紅外測溫原理提出了GIS設備內部與外部發熱缺陷的機理及表現特征,并給出相應的分析診斷依據,對于現場檢測時如何區分內外部故障以及如何判斷故障原因和類型提供參考,并結合實例分析不同類型的發熱缺陷,進一步驗證紅外測溫技術在GIS缺陷分析中的有效性和準確性,為指導現場實際提供了較高的參考價值。


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