較低的信噪比SNR，對噪聲更敏感

④TX/RX的設計更復雜，成本更高

圖3數字信號頻譜分布

數字信號的頻譜，無論是NRZ還是PAM4調制，或是PRBS的任意編碼形式，其頻譜都呈sinc函數型（如圖3），因此我們很難在頻域上解析信號中的信息，因此如果想去解析傳輸信號中包含的信息，我們通常是在時域上進行解析的。

而測試眼圖或者誤碼率就是在時域上評判系統的優劣，如果眼圖和誤碼率都能滿足指標要求，那說明系統的功能是優異的，該系統可以無失真的傳輸信號，而反之，如果測試發現眼圖或是誤碼率都不能滿足指標要求，眼睛睜不開，或者誤碼率很高，那么我們就要考慮是否是組成系統的器件的性能出現了問題。

器件性能對信號傳輸最主要的影響就包括器件帶寬的影響，因此，當單路速率比較高時，我們通常都會去測器件的頻域性能，即頻率響應。

如圖3所示的時域信號，轉換到頻域上我們可以看到，是一個sinc函數的包絡，該頻譜的主要頻譜能量都分布在sinc函數的第一過零點以內，第一過零點是由比特率來決定。從頻譜分布來看，可知比特率越高，上升時間越小，信號所占用的頻譜帶寬就越大。

因此，當我們傳輸速率比較高的時候，就需要保證器件的帶寬足夠大，這樣才能夠滿足無失真傳輸大帶寬信號的條件。而光波器件分析儀LCA的主要功能就是測試光電器件的頻域特性的。

時域測試與頻域測試并不是完全獨立的，他們是有一定關系的。

時域測試時，在整個測試鏈路中傳輸的信號是數字信號，從頻域上看所有的所有頻率分量雖然幅度各不相同，但它們是同時存在于測試鏈路中的，如圖3所示。

而頻域測試，每一時刻，鏈路中只存在一個單獨的頻率分量，每一時刻都測量一個單獨的頻率分量下的器件性能，信號頻率隨著時間掃描，從測試的起始頻率掃描到終止頻率，最終獲得整個測試帶寬的頻率響應。

保證器件的帶寬是足夠傳輸高速信號的，這一步叫做器件的性能測試。

性能測試通關之后才會進行封裝，封裝后還要進行時域的測試，這一步通常叫做功能測試。

因此對于一個合格的器件的生產，尤其是高速光通信器件，頻域和時域的測試都是必不可少的。如圖4，就是一個光模塊的生命周期，以及他們這個周期中需要經歷的測試，在光模塊出廠之前，需要分別經歷晶元的生產，電路集成，晶元測試，切割，校準，封裝，功能測試等流程，其中晶元測試我們一般會測器件的波長域的性能以及頻域的性能（光電元器件分析儀完成），在封裝后，要進行功能性測試（時域測試，眼圖誤碼等）。

圖4光模塊的生命周期