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一種新的軟件時序偏差校準方法,加速雙脈沖測試進程!


  來源: 泰克科技 時間:2023-11-08 編輯:清風
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其中VDD - VDS_high表示電源軌電壓和高壓端場效應晶體管FET上的壓降。需要注意,在開啟期間,由于VDD是固定的,而VDS_high是高壓端場效應晶體管FET本體二極管上的電壓,所以這個量是恒定的。


■ Rshunt是分流電阻


■ ID是根據Rshunt上的壓降測得的漏極電流


■ dID/dt 是測得的漏極電流變化率


■ Leff是整個電源回路的有效電感


如上所述,在開啟期間,VDD-VDS_high實際上是恒定的。Rshunt和Leff也是恒定的。這意味著模擬的VDS_low走線波形是ID的函數。


配置完參數后,用戶按下WBG的deskew按鈕。系統將根據指定的參數和漏極電流生成VDS的數學模型。該波形將顯示在屏幕上。


圖4. 根據ID計算出的VDS對齊波形與測量的VDS波形進行比較。偏移是對齊波形和測量波形之間的時間差。計算出偏斜后,就可以從ID波形中去除偏斜


如上圖所示,有效電感Leff考慮到了整個環路的“疊加”。因此,Leff通常是未知的,而這個參數需要反復調整。簡單地將糾偏過程反復運行,并對Leff進行調整,直到計算出的對齊波形和測量出的VDS波形具有相同的形狀。如果計算出的VDS對齊波形與測量的VDS波形在形狀上存在差異,可以調整參數并再次運行校準時間偏差。


一旦參數設置準確,對齊波形和測量波形將具有相同的形狀,系統就能確定并糾正偏斜。偏斜值顯示在Deskew設置中,并自動應用于連接VDS信號的通道。


這一新流程可以準確地計算偏斜值,并將時序偏差校準時間從一小時或更長時間縮短到5至10分鐘。


關鍵詞:雙脈沖測試 三代半導體 泰克    瀏覽量:14275

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