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如何借助折射率測量技術來提高半導體生產質量


  來源: 維薩拉工業測量 時間:2022-10-25 編輯:清風
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維薩拉半導體行業用折光儀 PR-33-S

適用于半導體液態化學品測量


該折光儀外形緊湊,流通池采用改良超純 PTFE 制成,適用于半導體液態化學品測量。可通過 ? 至 1 英寸的皮拉 Pillar 或擴口 Flare 連接。


維薩拉半導體行業用折光儀 PR-33-S 用于晶圓潔凈室里的化學品濃度監測,通常被安裝在混合、清洗、蝕刻和 (CMP) 等機臺上。


PR-33-S 包含一個超純改性 PTFE 流通池主體和一根以太網線,不同標準的以太網供電 (PoE) 開關均可通過以太網線向傳感器供電,并將數據傳輸給計算機。PR-33-S 實時監測化學品濃度,當化學品濃度超出規定范圍時,立即通過以太網反饋報警。例如,可通過配置低濃度和高濃度警報來控制和延長溶液使用壽命。這里的濃度通過對溶液折射率 nD 和溫度測量來確定。


PR-33-S 直接通過喇叭形或pillar配件進行安裝。PR-33-S 結構緊湊,不含金屬,體積小。


關鍵要素:

? N.I.S.T. 標準下的可追溯校準及驗證,采用標準折射率液體和驗證程序進行驗證。

? 光學核心設計。

? 通過以太網進行數據記錄和遠程界面操作。

? 標準 UDP/IP 通信。

? 過程溫度范圍:-20°C – 85°C (-4°F – 185°F)。

? 內置 Pt1000 快速溫度測量及自動溫度補償 。


關鍵詞:折射率 測量 半導體    瀏覽量:3173

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