序言
在雷達(dá)系統(tǒng)測試應(yīng)用中,毫無疑問,矢量信號源起著舉足輕重的作用。不僅可以為雷達(dá)發(fā)射機(jī)和接收機(jī)提供高質(zhì)量本振信號,更重要的是,還可以按照測試所需生成各式各樣的波形,這就是矢量信號源的優(yōu)勢。
眾所周知,距離分辨率決定了雷達(dá)在距離維度上的分辨能力,是目標(biāo)探測雷達(dá)和成像雷達(dá)非常重要的參數(shù)。對于簡單射頻脈沖而言,脈寬大小決定了距離分辨率,脈寬越窄,則距離分辨率越高,反之,距離分辨率越低。
但是,一味減小脈寬來提高距離分辨率是不現(xiàn)實(shí)的,一方面脈寬減少,則意味著脈沖信號的平均功率降低了,這會縮短雷達(dá)探測距離。另一方面,太窄的脈沖也在技術(shù)實(shí)現(xiàn)上提出了更高挑戰(zhàn)。
有沒有方法既能使用寬脈寬又可以實(shí)現(xiàn)高分辨率呢?
答案是肯定的,目前高分辨率雷達(dá)通常采用脈沖壓縮技術(shù),可以在采用寬脈寬的同時,實(shí)現(xiàn)更高的距離分辨率。今天就跟大家聊一聊脈沖壓縮技術(shù),以及矢量信號源在這種雷達(dá)測試中的應(yīng)用。
脈沖壓縮技術(shù)簡述
所謂脈沖壓縮,可以理解為在接收機(jī)側(cè)通過匹配濾波器或者互相關(guān)算法實(shí)現(xiàn)對回波信號脈寬的壓縮,從而提高距離分辨率。或者簡單地認(rèn)為,只要脈內(nèi)采用了頻率調(diào)制或者相位調(diào)制,都可以認(rèn)為使用了脈沖壓縮技術(shù)。目前比較常見的兩種調(diào)制方式分別為線性調(diào)頻(Chirp or LFP pulse)和相位編碼(Barker Pulse),如圖1所示。
圖1. 典型Chirp和Barker Pulse
脈沖壓縮技術(shù)并不是通過降低脈寬提高距離分辨率,而可以在脈寬不變的情況下,通過引入脈內(nèi)調(diào)制,同時保證雷達(dá)探測距離和高分辨率。
雷達(dá)接收機(jī)通常采用匹配濾波器,以實(shí)現(xiàn)信噪比SNR的最大化。如果脈內(nèi)采用了頻率或相位調(diào)制,經(jīng)過匹配濾波器后,SNR被改善的同時,脈寬也會被大幅度壓縮。在這個過程中,有兩個非常重要的參數(shù):脈沖壓縮比和時域邊帶抑制度。前者為原脈沖寬度與壓縮后脈沖寬度的比值,衡量了距離分辨率被改善的程度;后者為回波信號經(jīng)過匹配濾波器后,時域沖激響應(yīng)的最高邊帶與主帶信號幅度的比值,決定了雷達(dá)對低散色截面目標(biāo)的探測能力。下面將從這兩個參數(shù)著手,分別對Chirp Pulse和Barker Pulse進(jìn)行簡要介紹。
(1) Chirp Pulse
線性調(diào)頻脈沖是指脈沖內(nèi)部采用線性頻率調(diào)制,載波頻率可以線性增大(ramp up)、線性減小(ramp down)或者先線性增大再線性減小(ramp up and down or down and up),諸如此類的頻率線性變化,都屬于線性調(diào)頻的范疇。關(guān)于接收機(jī)側(cè)是如何通過匹配濾波器實(shí)現(xiàn)脈沖壓縮的,可以查閱相關(guān)書籍,此處更多是關(guān)注脈沖壓縮比和時域邊帶抑制。
假設(shè)線性調(diào)頻脈沖的脈寬為τ,帶寬為B,其脈沖壓縮比是多少呢?
接收機(jī)側(cè)會使用一個匹配濾波器處理雷達(dá)回波信號,其輸出的時域波形近似為Sa(x)函數(shù),有主瓣,亦有豐富的邊帶,如圖2所示。或者可以這里理解,線性調(diào)頻脈沖的頻譜類似于一個帶通濾波器的幅頻響應(yīng)曲線,經(jīng)過匹配濾波器后,其頻譜形狀變化不大,可以將其想象成頻域的“脈沖”,經(jīng)過IFFT后得到的時域波形則類似于Sa(x)函數(shù)曲線,這就是壓縮后的時域波形,壓縮后的脈寬可以近似為1/B (在3dB脈寬和6dB脈寬之間)。
信號原脈寬為τ,壓縮后的脈寬近似為1/B,則脈沖壓縮比近似為:τ?B,這也是通常所講的時寬帶寬乘積,是線性調(diào)頻脈沖的一個非常重要的參數(shù)。
圖2. 線性調(diào)頻脈沖的典型時域沖激響應(yīng)
壓縮后的脈沖近似Sa(x)函數(shù),所以第一邊帶相對于主瓣的電平理論值為:-13.3dB。此時的時域邊帶抑制還不夠高,較強(qiáng)的時域邊帶可能會造成目標(biāo)誤判,同時也可能將目標(biāo)回波信號淹沒在邊帶中而探測不到目標(biāo)。為了進(jìn)一步降低時域邊帶,在數(shù)據(jù)處理過程中可以考慮引入時間窗,但時間窗的引入會導(dǎo)致主瓣寬度的增大,需要折中考慮。
(1) Barker Pulse
Barker pulse實(shí)際上是在脈內(nèi)采用了BPSK調(diào)制,只是調(diào)制源為Barker碼。Barker碼序列是一組特殊的二進(jìn)制比特,目前發(fā)現(xiàn)的Barker長度包括2、3、4、5、7、11和13位。當(dāng)二進(jìn)制比特由0變?yōu)?,或者由1變?yōu)?,載波相位將發(fā)生180°變化,如圖1右所示,給出的就是Barker5 (11101)對應(yīng)的波形示意圖。
圖3. Barker 13脈沖壓縮后的時域波形
Barker pulse經(jīng)過匹配濾波器壓縮后的時域波形如圖3所示,時域邊帶幅度相同,為主瓣脈沖幅度的1/N,N為Barker碼的長度。比如Barker 13,時域邊帶抑制為:20lg(1/13)≈-22dB。
壓縮后的脈寬為τ/N,相當(dāng)于將原脈寬平均分成了N個子脈沖,因此對應(yīng)的脈沖壓縮比為N。而且,由圖3可以觀測到,脈沖壓縮后,不僅脈寬變小了,SNR也改善了,改善了雷達(dá)對微弱回波信號的處理能力。
為什么需要矢量信號源?
脈沖壓縮比和時域邊帶抑制不僅與所使用的脈內(nèi)調(diào)制方式、參數(shù)和接收機(jī)側(cè)匹配濾波器性能、數(shù)據(jù)處理方法有關(guān),還會受到發(fā)射機(jī)鏈路諸如功率放大器等部件以及級間阻抗匹配的影響。在發(fā)射機(jī)開發(fā)階段,通常會使用矢量源信號源產(chǎn)生標(biāo)準(zhǔn)的脈沖信號,脈內(nèi)采用線性調(diào)頻或者Barker碼調(diào)相,以驗(yàn)證射頻前端部件對脈沖參數(shù)造成的影響。
類似地,對于雷達(dá)接收機(jī)鏈路的驗(yàn)證以及信號處理算法的驗(yàn)證,也需要矢量信號源提供標(biāo)準(zhǔn)的脈沖信號。
由此可見,在雷達(dá)收發(fā)機(jī)開發(fā)過程中是需要信號源提供標(biāo)準(zhǔn)脈沖信號的,而像脈內(nèi)調(diào)頻或調(diào)相的脈沖,采用模擬信號源是很難實(shí)現(xiàn)的,矢量信號源才是最佳選擇,尤其是高帶寬脈沖的產(chǎn)生。這就是為什么在雷達(dá)測試中需要使用矢量信號源的原因。
圖4. 矢量信號源用于雷達(dá)收發(fā)機(jī)測試
如何使用KSW VSG02矢量信號源產(chǎn)生射頻脈沖信號?
圖5. KSW-VSG02矢量信號源
KSW-VSG02具有多個頻率型號,頻率最高可達(dá)44GHz,可配置單個或兩個射頻通道,最高功率高達(dá)+21dBm,2GHz調(diào)制帶寬,優(yōu)異的相噪指標(biāo)(< -146dBc@F = 1GHz,20KHz SSB;(低相噪選件)),助力產(chǎn)生理想的寬帶脈沖信號。
在雷達(dá)信號產(chǎn)生方面,提供了信號波形產(chǎn)生軟件,支持脈沖輪廓編輯、脈內(nèi)調(diào)制、脈沖參數(shù)捷變以及天線模擬等功能,以便更好地滿足用戶豐富多樣的測試需求。
(1)脈沖輪廓:支持矩形、梯形、升余弦、鋸齒等脈沖輪廓,用戶還可以根據(jù)實(shí)際需要進(jìn)行自定義。
(2)脈內(nèi)調(diào)制:支持線性調(diào)頻、步進(jìn)頻、Barker碼、Frank碼、PSK、QAM等一系列常用的調(diào)制方式,并且支持自定義調(diào)制方式。
(3)參數(shù)捷變:支持脈沖之間幅度、頻率、相位、脈寬、脈重頻等多種參數(shù)的捷變,其中載波頻率和脈重頻還支持隨機(jī)跳變。
(4)天線模擬:在評估天線帶來的影響時,可以使用雷達(dá)信號生成軟件直接生成各式各樣天線偶極子、平面陣及拋物面天線等)及天線不同掃描方式(圓周掃描、扇形掃描、光柵掃描等)對應(yīng)的波形,即使沒有天線實(shí)物,依然可以模擬天線存在時給系統(tǒng)帶來的影響。
(5)支持脈沖描述字(PDW)以及脈沖描述字的實(shí)時傳輸,并與其它主流信號源的PDW兼容。
圖6.雷達(dá)信號產(chǎn)生軟件
總結(jié)
矢量信號源已然成為雷達(dá)系統(tǒng)測試中不可或缺的標(biāo)準(zhǔn)測試設(shè)備,頻率高、帶寬大、相噪低,逐漸成為現(xiàn)代雷達(dá)測試對矢量信號源提出的最新要求。本文以高分辨率雷達(dá)常用的脈沖壓縮技術(shù)為切入點(diǎn),對其作了簡要介紹,并解釋了雷達(dá)系統(tǒng)測試中使用矢量信號源的必要性。最后介紹了雷達(dá)波形生成軟件,能夠方便地生成豐富的脈沖波形,滿足多樣的測試需求。