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有了紅外熱像儀,電子熱缺陷不再難找


  來源: FOTRIC熱像科技 時間:2018-09-04 編輯:夏禪
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紅外熱像儀是一種非接觸的測溫儀器,通過對物體表面的熱(溫度)分布成像與分析,能夠快速發現物體的熱缺陷。



在電子和半導體行業的溫度分布、散熱效果分析、功耗設計和研究、PCB布局優化、維修檢測等方面,紅外熱像儀會顯著提高工程們的效能:

?“看見”熱,比經驗和直覺耗時更少,定位更準確;

? 非接觸,不用擔心觸電風險;

? 不用布線,不用涂膠,也不用擔心高溫熔化熱電偶粘膠;

?“看”小物體的熱成為可能;


電子產品熱評估


好的產品應該至少滿足2點:1.滿足法規和標準要求;2.用戶體驗好。

法規和標準會對電子產品的極限溫升做出規定,這是保護消費者人身和社會公共安全。

體驗是在功能之外給客戶帶來的舒適性與愉悅感提升,比如AB兩個配置相似的手機,同時“吃雞”,A手機運行20分鐘后散熱沒做好,處理器開始降頻卡頓,而B手機一直流暢,自然B手機體驗更好。

紅外熱像儀的“火眼精金”,在極限溫升實驗中彌補熱電偶等溫度檢測手段不足,發現漏網的“異常熱點之魚”。同時,紅外熱像儀可以將難以文字描述、也難以理解的溫度主觀感受具象化,研發人員按圖索驥,改進無疑更有效率。



散熱分析


熱管理工程師如果能“看見”熱,無疑有助于更好的散熱分析,制定更好的散熱方案。



故障維修


PCB板上元件眾多,如果有短路、擊穿、焊接不良等故障,排查和定位需要豐富的經驗,同時耗時較多。借助紅外熱像儀,維修人員可以將故障電路板的熱像圖和正常熱像圖比對,定位溫度異常的元器件,再有針對性的測試,可顯著提高工作效率。




芯片失效分析


溫度過高會導致芯片內部的晶體管P-N不能正常通斷,導致芯片失效。使用紅外熱像儀檢測芯片封裝表層的溫度,可以計算出內部的大致溫度。也可以將芯片的封裝層磨掉,使用紅外熱像儀直接檢測晶圓、金線、連接點等溫度。




關鍵詞:紅外熱像儀 電子熱缺陷    瀏覽量:6720

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