跳頻源輸出雜散是指跳頻源工作在某一個穩定頻率期間輸出的雜散,對于跳頻源的雜散測試需要在跳頻源工作在f1或f2期間進行測試。如果需要對跳頻源工作在f1頻率時的輸出雜散輻射進行測試，必須保證4051在跳頻源工作在f1頻率期間進行頻譜測量，在其他狀態停止測量，4051中的時間門功能恰好能夠滿足這一要求。

時間門是由用戶定義執行測量的時間窗口，允許用戶指定想要測量的部分信號，并排除或屏蔽無用信號。門控本振是一種非常巧妙的時間門測量方式，它只在門選通的時候掃描本振并通過信號。圖1所示是門控本振的工作框圖，門控信號控制著掃描發生器什么時候掃描，什么時候通過信號，這就使得4051只在門選通期間測量信號頻譜。因此只要控制著4051在f1頻率期間測量信號頻譜，即可獲得跳頻源在f1頻率周圍的雜散頻譜。 

圖1 4051門控本振工作原理圖

方法一：外部觸發門控信號測試雜散

圖2時間門功能測試跳頻源雜散連接圖

跳頻源射頻輸出接入到4051的射頻輸入端口，當跳頻源工作在f1頻點時，提供一個同步觸發信號給4051的門控輸入端口。打開4051的時間門測量功能，將中心頻率設置成f1，頻寬為希望測量的偏離f1的最大頻率偏移的兩倍，將時間門觸發信號設置為外部門控輸入，門寬度設置成T1，該數值必須小于跳頻源工作在f1頻點的最小駐留時間，此時4051輸出的信號頻譜即為跳頻源工作在f1頻率時的雜散頻譜，利用差值頻標功能即可獲得雜散數值。

圖3 跳頻源輸出信號、觸發門控信號和時間門信號的時序關系圖

圖3給出了跳頻源輸出、觸發門控信號、時間門信號之間的時間關系圖。其中觸發門控信號的上升沿或下降沿和跳頻源切換到頻率f1的時刻存在同步關系，4051僅在門信號為高電平的時間內進行頻譜掃描測量。因此通過時間門預覽功能調整門延遲和門寬度，確保門信號在跳頻源輸出頻率f1時進行選通。

方法二：射頻輸入觸發門控信號測試雜散

當無法提供控制系統或無法提供一個外部門控信號時，可以利用4051內部的射頻輸入觸發信號作為門控信號，例如中頻功率觸發信號。

圖 4 4051射頻輸入觸發門控掃描原理圖

4051在內部混頻接收鏈路的中頻部分都帶有一個功率檢波器，用于檢測中頻信號的功率，當檢測中頻信號的功率大于脈沖檢測門限時，輸出一個高電平的TTL信號，當檢測中頻信號的功率小于脈沖檢測門限時，輸出一個低電平的TTL信號。通常中頻功率檢波的中頻帶寬從10MHz到百MHz，因此如果使用中頻功率觸發作為門控信號，跳頻源工作頻點的間隔必須大于中頻帶寬，在|f2-f1|大于中頻帶寬時，4051中頻電路中將會出現一個突發脈沖，中頻觸發檢測電路將產生一個TTL的脈沖觸發信號。依據該信號控制4051的時間門選通的開啟和關閉，結合門延遲的調節，同樣可以進行跳頻源雜散頻譜測試。圖4分別給出了時間門功能關閉和開啟測量的信號頻譜。

圖5（a）時間門關閉時的信號頻譜

圖5 (b) 時間門打開時的信號頻譜

圖5 時間門測量跳頻源雜散輸出測試結果示例

除了上述門控觸發方式外，還可以使用4051提供的周期性觸發信號、電源觸發信號等作為門控信號進行雜散響應的測量。