光頻域反射計（OFDR）結構包括線性掃頻光源、邁克爾遜干涉儀結構、光電探測器和頻譜儀（或信號處理單元）等，基于光外差探測，其原理可用圖4進行表示，。2006年，Brian J. Soller與Steven T. Kreger等人利用OFDR系統在70m長的光纖上實現了2mm的空間分辨率以及±1/0.1℃的應變/溫度分辨率；D.K.Gifford與M.E.Froggatt等人搭建的OFDR系統在800米的光纖上取得了9cm的空間分辨率；Jia Song與Wenhai Li等人在2014年搭建的OFDR實驗系統在300m光纖上實現了7cm的空間分辨率以及2.3/0.7℃的應變/溫度分辨率。目前，OFDR的主要生產商是美國LUNA公司，但是OFDR昂貴的價格以及測試距離的限制等原因，導致其主要應用領域被限制在精密加工、實驗室研究等領域，還無法大規模進行工程應用。
1.5 BOCDA技術
布里淵光相關域分析技術（BOCDA）基于時頻混合的連續光整合技術，將連續的探測光與泵浦光進行頻率調制，利用探測光與泵浦光相互作用得到測試結果。
