混合信號(hào)芯片涵蓋模擬信號(hào)與數(shù)字信號(hào)的測量與控制。一般測試相關(guān)的文檔多從儀表的操作角度出發(fā)，工程師就得花時(shí)間理解儀表功能，并且還要想辦法對(duì)應(yīng)到自身的芯片應(yīng)用上。如果芯片的測試軟件能夠從芯片本身的驗(yàn)證流程去操作，就可以減少工程師花在理解儀表功能上的時(shí)間，從而提高工作效率。
傳統(tǒng)的測試方法需要耗時(shí)幾個(gè)小時(shí)，NI的測試方案僅需幾十分鐘。
在混合信號(hào)芯片驗(yàn)證過程中，要提升測試和驗(yàn)證工作的產(chǎn)出就需要：
﹒預(yù)建的測量項(xiàng)目與開放式框架擴(kuò)充項(xiàng)目
﹒能在交互式環(huán)境下調(diào)試
﹒快速將調(diào)試結(jié)果擴(kuò)展至自動(dòng)化測試流程
﹒支持各種自動(dòng)化環(huán)境和編程語言，讓項(xiàng)目和團(tuán)隊(duì)之間能復(fù)用測量IP
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