微波半導體芯片在片測試是微波集成電路建模、設計、工藝生產和應用之間的橋梁，是集成電路設計實現的基礎，不可或缺。沒有準確的測試數據，無法完成準確半導體芯片建模，也就無法實現芯片工藝的有效調整。因此芯片測試設備在芯片產業中具有重要作用，在各個產業環節均有大量需求：

目前芯片測試設備存在的主要問題有兩個：一是系統平臺受控于人，替代難度大但急需自研。國外設備廠商長期以來形成明顯的分工，相互排斥又互相兼容，建立了測試標準和測試平臺。二是在片測試成本高，效率低。微波半導體芯片多參數，或綜合參數測試需要配置多套系統、多臺多種類儀器才能完成綜合參數測試，急需一體化的綜合參數快速測試設備。

中電儀器推出的微波半導體芯片在片測試解決方案，解決了在芯片測試中存在的諸多難題。中電儀器通過深入調研分析20余家單位需求，整合已積累的技術，開發或聯合開發新技術，補償技術短板，初步建設了微波半導體芯片測試軟件平臺。該平臺不但兼容幾乎所有的主流在片測試儀器、軟件和附件，而且具有統一友善的用戶使用接口，測試效率高、產業化程度高、功能全面。系統中測試儀器和軟件基本實現自研，微波探針、探針臺、在片校準片等關鍵微波部件逐步國產替代，形成以微波儀器為核心的10余種選件，組合為6套具體系統向行業推廣：

（1）S參數及增益壓縮等常規參數測試系統

（2）功率負載牽引測試系統

（3）毫米波擴頻測試系統

（4）低噪聲放大器測試系統

（5）生產測試系統

（6）傳感器及光電子測試系統

解決方案推向市場半年多來，已為客戶提供系統近10套，為客戶解決了現場芯片測試難題，某客戶專家給予了“雪中送炭”的評價?？蛻舻目隙ㄊ菍ξ覀冏畲蟮谋頁P和支持，中電儀器將不忘初心、牢記使命，為創造“國內卓越，世界一流”的品牌不懈努力，為祖國的繁榮富強，實現中國夢奮斗不息。（作者：楊保國 許春卿）