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微波半導體芯片測試解決方案

目前,低噪聲放大器芯片在設計、生產、檢驗和應用等環節需要使用在片測試設備,但目前各研究機構、單位或公司主要使用國外微波測試產品。本公司的3986噪聲系數分析儀,一體化最高頻率高達67GHz,可應用于低噪聲放大器芯片噪聲系數的高精度快速測試。


本文針對低噪聲放大器芯片噪聲系數和增益的快速測試問題,設計了On-wafer測試試驗,搭建基于3986噪聲系數分析儀、3672系列矢量網絡分析儀的測試系統,測試系統如圖1所示。通過對某型號低噪聲放大器芯片的測試,測得芯片的噪聲系數和增益,并對比了測試曲線與廠家提供的指標曲線,驗證測試系統正確性。


圖1 低噪聲放大器芯片測試系統框圖


1 系統組成
低噪聲放大器芯片測試系統組成如圖2所示,此系統主要組成為:
(1)噪聲系數分析儀。型號3986E,頻段10MHz~26.5GHz。
(2)矢量網絡分析儀。型號3672D,頻段10MHz~50GHz。
(3)噪聲源。頻段10MHz~26.5GHz。
(4)探針臺。型號:CASCADE 12652B-6。
(5)探針。GSG探針2個,直流探針2個。
(6)在片校準片。型號:CASCADE 101-190C。
(7)同軸校準件。
(8)直流電源。型號:大華DH1715A-3型直流雙路跟蹤穩壓穩流電源。
(9)低噪聲放大器芯片(被測件)。頻段2.6~3.8GHz;電壓+5V@42mA。
(10)電纜。穩幅穩相電纜2根,測試線纜2根。


圖2 低噪聲放大器芯片測試系統組成


2 測試流程
2.1 系統設置
(1)開啟噪聲系數分析儀和矢量網絡分析儀,預熱充分。
(2)根據芯片的測試要求及預測試分析,設置噪聲系數分析儀起始頻率為2.6GHz,終止頻率3.8GHz,掃描點數21點。相關參數及設置方法如表1所示。

表1 噪聲系數分析儀相關參數及設置方法


(3)根據芯片的測試要求及預測試分析,設置矢量網絡分析儀的起始頻率為2.6GHz,終止頻率3.8GHz,掃描點數21點,測試軌跡為S21。相關參數及設置方法如表2所示。


表2 矢量網絡分析儀相關參數及設置方法


2.2 系統校準
(1)校準噪聲系數分析儀
噪聲系數分析儀連接噪聲源后,點擊【校準】校準噪聲系數分析儀主機。
(2)校準矢量網絡分析儀
矢量網絡分析儀兩端口分別接穩幅穩相電纜,用同軸校準件對其進行SOLT校準,如圖3所示(詳細校準步驟請參閱相關資料,在此不再詳述)。

圖3 矢量網絡分析儀校準


(3)用矢量網絡分析儀測試探針等附件損耗S21

將圖3中的校準件取下,將穩幅穩相電纜連接線纜,線纜另一端接探針,探針扎在在片校準片的直通件上使兩個端口連通,連接示意圖如圖4所示。
在矢量網絡分析儀中點擊[文件]→[另存為],保存測試數據為s.csv文件。其中S21數據即為所需損耗。


圖4 矢量網絡分析儀在片損耗測試連接


(4)計算并設置損耗補償
損耗補償是在噪聲系數分析儀校準后、測試開始前,需要添加到噪聲系數分析儀中的數據,作用是補償掉線纜、探針帶來的損耗。損耗補償分為DUT前和DUT后兩部分,每一部分值為:-|S21|/2,DUT前/后損耗數據如表3所示。


表3 DUT前/后損耗數據表


點擊【損耗補償】→[DUT前表格]→[損耗補償表]→[DUT前表格],編輯損耗補償表,將頻率點和損耗數據輸入。按照同樣方法,將DUT后補償表輸入完成。


2.3 系統測試
(1)連接測試芯片
將噪聲源輸出端口連接到測試線纜,另一根線纜連接噪聲系數分析儀輸入端口。取下在片校準片,替換為低噪聲放大器芯片,用直流電源為其供電,同時對載物臺接地。低噪聲放大器顯微圖片和測試連接示意圖如圖5所示。

圖5 低噪聲放大器測試連接


(2)測試結果及分析
3986噪聲系數分析儀提供圖形、表格、測試儀三種顯示格式,可根據需求選擇對應格式。在本次試驗中,通過【格式】→[顯示格式]→[圖形]設置,查看當前測試數據的曲線圖;通過【格式】→[顯示格式]→[表格]設置,查看當前測試數據的表格數據。低噪聲放大器芯片噪聲系數、增益測試曲線和表格數據如圖6所示。


圖6 低噪聲放大器芯片噪聲系數、增益測試曲線和表格數據


已知該低噪聲放大器芯片噪聲系數典型值為1.05dB,增益為24dB。將測得的數據寫入excel制成曲線(右),與廠家提供的典型曲線(左)對比。噪聲系數測試曲線對比如圖7所示,增益測試曲線對比如圖8所示。曲線重合度較高。
 

圖7 噪聲系數測試結果與典型曲線對比


 

圖8 增益測試結果與典型曲線對比


總結
本次對低噪聲放大器的測試,可應用于低噪聲放大器芯片的生產測試環節,為保證測試的準確性,需要注意以下內容:


(1)3986噪聲系數分析儀進行噪聲系數和增益的測試,測試前要先連接噪聲源進行主機校準,然后輸入損耗補償值。不推薦直接使用噪聲系數分析儀測試附件插損。
(2)3672矢量網絡分析儀用作系統校準,測試探針、線纜整體的S21,計算損耗補償值。因此在校準前需要充分預熱,保證校準數據可反復使用。
(3)采用標量二分的方法補償系統附件插損,DUT前和DUT后均等于-|S21|/2,因此需要探針和電纜具有較好的對偶一致性。


(作者:劉森  李宇陽  鄭利穎  楊保國)

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