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實(shí)時(shí)性: LIBS技術(shù)幾乎可實(shí)時(shí)進(jìn)行元素分析,其快速性使它在需要快速分析結(jié)果的應(yīng)用中非常有用。非接觸性: LIBS不需要直接接觸樣
氣相色譜儀(GC)部分: 用于將混合物中的化合物分離成單一成分。它由進(jìn)樣口、毛細(xì)管柱、載氣、分離柱和檢測器組成。質(zhì)譜儀(MS
質(zhì)譜儀類型: 包括飛行時(shí)間質(zhì)譜儀(TOF-MS)、離子阱質(zhì)譜儀、四級桿質(zhì)譜儀、輕子傳遞質(zhì)譜儀(LTQ-Orbitrap)等。每種類型質(zhì)譜儀
技術(shù)參數(shù):應(yīng)用: 總的來說,X射線衍射儀是一種強(qiáng)大的研究工具,被廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物學(xué)、地質(zhì)學(xué)等領(lǐng)域,為科學(xué)研究和工程
離子化: 樣品通過一定方式離子化,通常使用電離源將樣品中的分子轉(zhuǎn)化為離子。加速: 離子被加速器加速,使其獲得一定的動能。飛
蒸汽化/氣化: 樣品通常需要先進(jìn)行預(yù)處理,將其轉(zhuǎn)化為氣態(tài)或原子態(tài)的形式。這可能意味著樣品通過高溫氣化轉(zhuǎn)化為蒸汽或原子形態(tài)。
特點(diǎn):應(yīng)用: 綜上所述,X射線光電子能譜儀是一種非常強(qiáng)大和有用的表面分析工具,它可以提供關(guān)于材料表面化學(xué)成分、化學(xué)狀態(tài)以及
特點(diǎn):應(yīng)用: 總之,X射線應(yīng)力儀是一種重要的材料分析工具,提供了在工業(yè)生產(chǎn)和科學(xué)研究中進(jìn)行殘余應(yīng)力和應(yīng)變測量的重要手段。其
原理: XPS的原理基于光電效應(yīng),主要包括以下幾個步驟: 結(jié)構(gòu): XPS主要包括以下幾個組成部分: 應(yīng)用前景: XPS已成為表面化學(xué)組
輝光放電(Glow Discharge): GD是一種等離子體放電技術(shù),通過在低壓氣體環(huán)境中施加高電壓產(chǎn)生等離子體。這種等離子體激發(fā)樣品
X射線衍射(X-ray Diffraction,XRD): X射線散射儀中的XRD是其核心原理之一。通過照射樣品的晶體結(jié)構(gòu),X射線會被晶格散射并產(chǎn)
分類: 瞬態(tài)光譜儀可以根據(jù)激發(fā)方式和測量方式進(jìn)行分類: 結(jié)構(gòu): 瞬態(tài)光譜儀的結(jié)構(gòu)包括以下主要部分: 測量步驟: 一般的測量步
等離子體生成: 首先,通過高頻感應(yīng)線圈產(chǎn)生高溫等離子體。這種等離子體需要維持在很高的溫度(約10000K左右),從而使樣品中的
結(jié)構(gòu): 庫侖儀通常包括以下主要組成部分: 技術(shù)指標(biāo):維護(hù): 總的來說,庫侖儀是一種用于測量電荷量的儀器,主要通過測量電荷之
性能:結(jié)構(gòu): 動態(tài)軸向壓縮柱系統(tǒng)通常包括以下主要組成部分: 特點(diǎn):原理: 動態(tài)軸向壓縮柱系統(tǒng)的工作原理是通過應(yīng)用力學(xué)原理,
準(zhǔn)備樣品: 將待活化的吸附材料放置在解吸管活化儀的樣品槽中。設(shè)定條件: 設(shè)置所需的活化溫度、氣體流量和壓力等參數(shù)。啟動設(shè)備