臺階儀（Stylus Profilometer）是一種常見的表面形貌測量儀器，適用于測量各種材料的表面形貌、粗糙度和輪廓等。它們通常用于工程、制造、材料科學和其他領域中的質量控制、研發和表征。以下是其工作原理及應用：
工作原理：
探頭接觸測量： 臺階儀的核心部件是一個小的機械探頭（stylus），它沿著被測表面移動，并記錄其高度變化。垂直位移轉換成電信號： 當探頭在表面上運動時，它的垂直位移會被轉換成電信號，并隨著探頭的移動而變化。
信號處理： 這些電信號會經過放大和濾波等處理，然后被轉換成數字信號。
數據分析： 數字化的信號將被用于生成被測表面的高度圖像或輪廓圖像，并進行后續的數據分析。
應用：
表面形貌測量： 臺階儀可用于測量各種材料表面的形貌，包括粗糙度、輪廓和表面特征。質量控制和檢測： 在制造業中，臺階儀被廣泛應用于質量控制程序，以確保產品表面符合規定的要求。
工程研究與開發： 臺階儀在材料科學、工程和研發領域中用于分析材料表面的特性，如紋理分析等。
薄膜測量： 用于測量光學薄膜、半導體薄膜等的表面形貌。
納米材料研究： 臺階儀也在納米材料和納米結構的表征中有應用，幫助研究人員理解納米級表面形貌特征。
金屬加工和表面處理： 對金屬件或其他材料的加工后表面粗糙度的測量。
總的來說，臺階儀在各種材料和表面的形貌表征中都扮演著重要的角色，為工程和研究領域提供了寶貴的表征手段。
