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用變址尋址原理突破EEPROM存儲器的擦寫壽命極限

儀器儀表商情網 前沿技術】一般地,EEPROM存儲器(93C46/56/66系列)的擦寫次數為10萬次,超過這一極限時,該單元就無法再使用了。但在實際應用中,可能有些數據要反復改寫。這時,可通過變址尋址的方式來突破EEPROM存儲器的擦寫壽命極限。

我們有一個單字節的數據要保存在E2PROM(93C56)中,可按以下方法來做:

1、將93C5600H單元定義為地址指針存放單元。

2、將要尋址的單元地址(假設為01H)放入93C5600H地址中。

3、每次要對E2PROM中的數據進行讀寫時,先讀取00H中的數據,并以讀出的值為地址,訪問其指向的單元。

4、在每次寫完數據后,立即將數據再讀出,并與寫入的地址做比較。

A、如果相等,則代表本次寫入數據成功。

B、如果不相等,則代表本次寫入數據失敗。這時,將00H中的值+1,讓其指向后一個新的地址單元,再將數據寫入新的地址單元。

93C56共有128個字節單元,按照以上方法,可將數據的擦寫次數提升120多倍!達到1200多萬次!

對于24C16/32/64系列的芯片,也可采用這種方法。

補充二點

1. EEPROM單元壞與不壞界線很是模糊. EEPROM單元能寫入信息是因為它的浮柵能俘獲電子并將其困在其中但隨著時間的推移電子由于熱運動或外界給予能量會逐漸逃逸所以說EEPROM保持信息是有一定年限的(比如100). 寫入與擦除信息即是向浮柵注入和釋放電子,電子能量比較高,可能改變周圍的晶格結構,導致浮柵俘獲電子能力的下降,也就是表現為保存信息的時間變短所以才會有一個保守的寫入次數限制(這里說保守是因為半導體的離散性大,實際的次數大得多). 到了規定寫入次數并不是說該單元就壞了而是說該單元保持信息的時間已不可信賴(而實際上它可能還能保存相當長時間甚至幾十上百年),所以實際上短時間很難判定某個單元是否可用(壞了). 如匠人的方法檢測寫入時測試好好的可能幾秒鐘之后該單元的數就逃了.

2. 寫壞一個單元是很費時間的, "這個方法,小匠使用過多次,證明是可行的。不知匠人在使用過程中是否碰到過有寫壞的情況。





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