羅德與施瓦茨公司的R&S RTO和R&S RTP示波器推出的新選件可以幫助開發工程師更深入地了解其傳輸接口的每一個抖動成分。現在，工程師可以將抖動分離為隨機性抖動和確定性抖動，并靈活地查看結果以進行有效的調試。羅德與施瓦茨使用參數信號模型分離算法以獲得精確的測量以及額外的附加結果。

羅德與施瓦茨（以下簡稱“R&S公司”）開發了一種創新而強大的方法來分析抖動的各個組成部分，從而讓電路設計者能夠獲得前所未有的深入了解，這對于調試高速信號是非常有價值的。

隨著數據速率的提高和電壓擺幅的減小，數字接口的抖動占據了信號間隔的很大比例，同時也成為潛在的故障源頭。因此工程師越來越需要能夠精確測量信號抖動的工具，包括將其分離成各個抖動成分。

新的R&S RTO-/ RTP-K133高級抖動分析選件引入了一種分析方法來分離出各個抖動成分，如隨機性抖動和確定性抖動（如數據相關抖動和周期性抖動）。這種方法基于一種參數信號模型，該模型可以完全表征被測的傳輸鏈路。

R&S公司這種方法的核心優勢在于，它的抖動模型包括了被測信號的完整波形特征，而相比之下，傳統方法將數據縮減為一組時間間隔誤差測量值。因此，即使是相對較短的信號序列，新的方法也可以獲得一致的測量數據，以及先前不可用的信息如階躍響應，或垂直和水平周期性抖動之間的區別。工程師可以從抖動表現的深層次細節中獲益，包括合成眼圖，所有單個抖動成分的直方圖，周期性抖動的頻譜和峰值視圖，以及用于估算誤碼率的浴盆圖。

R&S公司高級副總裁兼示波器部門負責人Josef Wolf表示，R&S RTO-/ RTP-K133選件將受到市場歡迎。他提到：“我們非常自豪為市場帶來了這種先進的方法，這是近二十年來首次對示波器抖動分離進行真正改進的新方法。利用新的高級抖動組件，我們可以幫助工程師獲得更多其信號抖動特征前所未有的深層次細節。”

這個新的抖動分離組件為工程師擴展了信號完整性調試功能，補充了業界僅有的集成式時域反射（TDR）/時域傳輸（TDT）測量方法，以及在單個示波器中的實時去嵌入功能。

R&S公司現在可以為R&S RTO和R&S RTP示波器提供R&S RTx-K133選件。1月28日至30日在加利福尼亞州圣克拉拉市舉行的DesignCon 2020展會上，R&S公司已在其展位上進行了現場演示。