輻射發射測量方法－1Ω/150Ω直接耦合法
德國LANGER公司開發和生產的用于測量IC引腳傳導發射的1歐姆/150歐姆組件，符合IEC61967-4規定的兩種測試方法：1Ω測試法和150Ω測試法。1Ω測試法用來測試接地引腳上的總騷擾電流，150Ω測試法用來測試輸出端口的騷擾電壓。
測試示意圖
測試連接圖
探頭技術探頭參數
輻射發射測量方法－磁場探頭法
德國LANGER公司開發和生產的用于測量IC引腳的傳導發射的磁場探頭，符合IEC61967-6測試要求，磁場探頭法是通過測試PCB板導線上的電流來評定集成電路的電磁發射。芯片引腳通過PCB板上的導線與電源或外圍電路相連，因而它產生的射頻電流可用一個靠近的磁場探頭獲取，由電磁感應定律，探頭輸出端的電壓正比于導線上的射頻電流。
測試示意圖
測試連接圖
探頭技術參數
